美國International Light - 儀器儀表 型號/圖片

美國ILT2400+SED220/NS185/QNDS2/NS254-40輻照計(jì)185nm紫外線輻射測量

International Light ILT2400輻照計(jì)主機(jī)搭配的SED220/NS185/QNDS2/NS254-40探頭具有窄帶濾片，響應(yīng)波段165-200nm、中心波長185nm，便于測量產(chǎn)生臭氧的汞燈在185nm輻射強(qiáng)度，添加的QNDS2中性密度濾光片100倍衰減可擴(kuò)展量程250μW/c㎡至250mW/c㎡，NS254-40歸零濾片阻擋光源中比較強(qiáng)烈的254納米輻射，美國制造并具有NIST可追溯校準(zhǔn)報(bào)告證書。

美國International Light ILT2400+SED240/NS254/QNDS2/W輻照計(jì)

International Light ILT2400輻照計(jì)主機(jī)搭配SED240/NS254/QNDS2/W探頭用于測量高強(qiáng)度中壓汞燈、氙弧燈、汞弧燈或汞氙弧燈光源發(fā)射的254nm紫外線殺菌效果，窄帶濾光片響應(yīng)范圍249-259nm、中心波長254nm，中性密度濾光片100倍衰減輻照度量程范圍200μW/cm2~ 2W/cm2，主機(jī)和探頭均帶有測試校準(zhǔn)報(bào)告證書。

美國IL ILT2400輻照計(jì)XSD140B探頭365nm光阻劑光刻膠曝光蝕刻測量

International Light國際光學(xué)ILT2400+XSD140B輻照計(jì)用于PCB印刷線路板及半導(dǎo)體行業(yè)光刻膠工藝紫外線曝光強(qiáng)度測量，響應(yīng)波段326-401nm，中心波長365nm，輻照度量程7e-8至1W/cm2，研究級的質(zhì)量，手持式產(chǎn)品的價(jià)格。

國際光學(xué)International Light ILT800-UV輻照計(jì)UVA/UVB紫外光固化能量計(jì)

美國International Light ILT800-UV輻照計(jì)即UVA/UVB能量計(jì)響應(yīng)波長250-400nm，可同時(shí)以測量劑量mJ/cm2和輻照度5mW/cm2~40W/cm2，用于UV墨紫外光固化工藝檢測，一體化集成式設(shè)計(jì)，每秒3000個(gè)數(shù)據(jù)采樣率，圖形化的測量顯示，可存儲(chǔ)1000個(gè)測量值，CureRight PC軟件可下載比較測量值，帶ISO17025認(rèn)證和NIST可追溯的校準(zhǔn)報(bào)告證書。

美國IL國際光學(xué)ILT2400輻照計(jì)SED254/QT探頭254nm高強(qiáng)度紫外殺菌燈測量

International Light ILT2400輻照計(jì)SED254/QT探頭光譜響應(yīng)波段249-259nm，校準(zhǔn)于254nm中心波長，輻照度量程范圍7e-7~10W/cm2，專門設(shè)計(jì)用于各種高強(qiáng)度紫外線殺菌源254nm處的殺菌效果，帶美國NIST可溯源校準(zhǔn)和證書。

美國International Light ILT2400-FARUVC輻照計(jì)222nm紫外線殺菌照射劑量檢測

美國ILT2400-FARUVC輻照計(jì)是一個(gè)完整的222nm紫外線UVC光測量系統(tǒng)，包括一個(gè)ILT2400主機(jī)和SED240/FUVC/W探頭以及校準(zhǔn)證書，用于深紫外殺菌照射劑量輻射強(qiáng)度測量，200~250nm響應(yīng)光譜處于日盲波段，探測信號背景干凈利于信號捕捉，校準(zhǔn)于222nm波長，測試量程0.3uW/cm2~3mW/cm2。

[停產(chǎn)]美國ILT2400輻照計(jì)SED185探頭185nm臭氧殺菌探測器UV光解廢氣

International Light ILT2400輻照計(jì)專用SED185/NS185臭氧殺菌探測器安裝了窄帶濾光片，響應(yīng)光譜范圍165~200nm ，中心波長185nm，專為測量低強(qiáng)度185nm波長的臭氧殺菌紫外線輻照度，應(yīng)用于與光解廢氣、水處理和表面殺菌行業(yè)。

美國IL國際光學(xué)ILT2400+XSD340A輻照計(jì)320-475nm紫外線光阻劑曝光測量

International Light ILT2400輻照計(jì)和XSD340A探頭組成的測量系統(tǒng)可用于PCB印刷線路板光刻膠工藝，可測量320-475nm光阻劑作用光譜，校準(zhǔn)于405nm，光探測器可承受輻照強(qiáng)度范圍8e-7至10W/cm2，NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告，保證測量結(jié)果精確可靠。

美國ILT2400+XSD340B輻照計(jì)365nm波長30W/cm2高功率曝光

國際光學(xué)International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統(tǒng)用于326-401nm波段紫外線輻照度監(jiān)測，校準(zhǔn)于365nm光阻劑作用光譜，精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度，可測量高達(dá)30W/cm2 高強(qiáng)度，用于PCB印刷電路板光及半導(dǎo)體業(yè)。

[已改款]美國ILT2400-222UV輻照計(jì)222nm準(zhǔn)分子UVC LED紫外殺菌光源測量驗(yàn)證帶校準(zhǔn)證書

International Light ILT2400-222UV輻照計(jì)經(jīng)過專門配置和校準(zhǔn)，具有經(jīng)ISO17025認(rèn)可的NIST可追溯校準(zhǔn)證書，可測量220-222nm準(zhǔn)分子燈輻射照度，輻照度8 nW/cm2至4 mW/cm2，劑量范圍8 nJ/cm2至數(shù)百萬mJ/cm2，用于窄帶UVC紫外殺菌消毒系統(tǒng)中的光源測量驗(yàn)證，幫助抗擊COVID-19新冠病毒和其他傳染病。